Aufgabensammlung für die BTI–Übung (Sommersemester)

Aufgabe 1)

Gegeben ist das folgende NAND–Gatter. Bestimmen Sie die Auswirkungen der Haftfehlertypen "Stuck–at–One" (s_1) und "Stuck–at–Zero" (s_0) an den Eingängen (a,b) und dem Ausgang (y).

Aufgabe 2)

Gegeben sei nachstehender Inverter in CMOS–Technologie. Diskutieren Sie die Auswirkungen der eingezeichneten Kurzschlüsse und Unterbrechungen. Lassen sich die aufgelisteten Defekte auf das "Stuck–at"–Fehlermodell abbilden?

Fehler:
1. Keine Verbindung von E zum Gate von T1
2. Keine Verbindung von E zum Gate von T2
3. Keine Verbindung von Source T1 zu VDD
4. Keine Verbindung von Source T2 zu VSS
5. Verbindung von A zu VDD
6. Verbindung von A zu VSS
7. Verbindung von E zu VDD
8. Verbindung von E zu VSS

Aufgabe 3)

In der nachstehenden Schaltung läßt sich der Pfad e nicht auf s_0 testen. Durch eine andere Realisierung ist dies zu ändern. Ermitteln Sie hierfür die Funktionsgleichung, tragen Sie diese nach entsprechender Umformung in ein KV–Diagramm ein und bestimmen Sie daraus eine alternative Schaltung.

Aufgabe 4)

Gegeben sei folgende Schaltung:

1. Stellen Sie die Funktionsgleichung der Schaltung auf und bestimmen Sie die möglichen "Stuck–at"–Fehler.
2. Bestimmen Sie die Mindestmenge der Testmuster mit Hilfe der Ausfallmatrix.

Aufgabe 5)

Bestimmen Sie die Mindestmenge der Testmuster für beide nachstehende Realisierungen der Antivalenzfunktion mit Hilfe der Ausfallmatrix.

Aufgabe 6)

Bestimmen Sie die Testvektoren für die nachfolgend skizzierte Schaltung mit Hilfe der Ausfallmatrix.

Aufgabe 7)

Gegeben sei folgende Funktionsgleichung: y = a·b + c·( a·b + a·b ).
Ermitteln Sie mit Hilfe der BOOLE’schen Differenzen eine Testmenge für die Schaltung (vgl. Aufgabe 6)

Anmerkung: Die Methode der BOOLE’schen Differenzen ist von der konkreten Realisierung der Schaltung unabhängig, da nur die Funktionsgleichung betrachtet wird.

Aufgabe 8)

Ermitteln Sie eine minimale Testmustermenge für die nachstehende Schaltung (vgl. mit Aufg. 3) mit Hilfe der BOOLE’schen Differenzen.

Aufgabe X) = Übungsaufgabe

Bestimmen Sie die Testmuster für nachstehende Schaltung mit Hilfe der BOOLE’schen Differenzen.

Aufgabe 9)

Bestimmen Sie die Testmuster für ein Antivalenzgatter mit Hilfe der BOOLE’schen Differenzen. (vgl. Aufgabe 5)

Aufgabe 10)

Bestimmen Sie einen Pfad, der den Knoten a der nachfolgenden Schaltung auf s_0 testet.

Aufgabe 11)

Bestimmen Sie einen Pfad, der den Knoten b der Schaltung aus Aufg. X) auf s_1 testet.

Aufgabe 12)

Gegeben sei folgende Schaltung. Geben Sie die Belegung der Eingangsvariablen an, um Knoten a auf s_1 und s_0 zu prüfen.

Aufgabe 13)

Bestimmen Sie mit Hilfe des D–Algorithmus eine Testmenge, die alle Haftfehler in nachfolgender Schaltung prüft.

Aufgabe 14) (optional)

Bestimmen Sie für die nachfolgende Schaltung mit Hilfe des D–Algorithmus eine Testmenge für alle Haftfehler.

Aufgabe 15)

Bestimmen Sie die Testmenge für alle Haftfehler der nachfolgenden Schaltung mit Hilfe des D–Algorithmus.

Aufgabe 16)

Bestimmen Sie die Testmuster für S_0 auf Knoten j der nachstehenden Schaltung mit Hilfe des D–Algorithmus.

Aufgabe 17)

Bestimmen Sie die Testmuster für das Signal ’n’ der Schaltung von Aufg. 16) mit Hilfe des PODEM–Algorithmus.

Erstellt am 14.07.1998. Bernd Klose