Boundary-Scan - Implementierung (Struktur-Algorithmisch)

1. Snonyme 2. Klassifizierung 3. Kontext 4. Problem 5. Lösung 6. Implementierung 7. Praxiseinsätze 8. Korrelierte Muster 9. Literatur

Eingänge/Ausgänge:

Anschluß der externen Ein- und Ausgänge der Schaltung.

TDI (Test Data In)/TDO (Test Data Out):

Serieller Daten-Ein- bzw. -Ausgang der zusätzlichen Testlogik; meist werden über sie die Testmuster ein- bzw. ausgelesen.

TMS (Test Mode Select):

Der Betrieb der Testlogik wird über serielle Bit-Sequenzen gesteuert, die an diesen Eingang angelegt werden.

TCK (Test Clock):

Takteingang für die zusätzliche Testlogik. Bausteine einer Leiterplatten-Baugruppe können so unabhängig vom Systemtakt für Testoperationen untereinander synchronisiert werden.

TRST (Test Reset):

Der Reset-Eingang der Testlogik ist optional, d. h. wird als Eingang des Test Access Ports (TAP) von IEEE nicht vorgeschrieben. Da jedoch nach Norm die Schaltung eine Reset-Funktion besitzen muß, wird meist ein solcher Eingang benutzt. Eine alternative Realisierung wäre z. B. die Verwendung eines „Power-Up-Reset-Schaltkreises" oder eine Grundinitialisierung mit Hilfe der Signale TMS und TCK.

TAP-Kontroller:

Steuerwerk der zusätzlichen Testlogik.

Boundary-Scan-Register (BSR), Bypass-Register (BR) und Instruktions-Register (IR)

müssen nach Std. 1149.1 immer vorhanden sein. BSR und BR werden im allgemeinen als Testdaten-Register (TDR) bezeichnet.

Testdaten-Register (spez.) und Identifikations-Register (IDR)

sind dagegen optional, d. h. müssen bei einer Realisierung nicht berücksichtigt werden. Werden sie allerdings doch verwendet, so sind nach IEEE Std. 1149.1 Regeln bzw. Entwurfsvorgaben zu beachten. Im spezifischen TDR werden neben den vorgeschriebenen BSR und BR weitere, herstellerspezifische Testdaten zusammengefaßt.

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