Boundary-Scan - Implementierung (Struktur-Funktional)

1. Snonyme 2. Klassifizierung 3. Kontext 4. Problem 5. Lösung 6. Implementierung 7. Praxiseinsätze 8. Korrelierte Muster 9. Literatur

Identifikations-Register (IDR):

Bit 0 hat immer einen konstanten Wert von „0".

Hersteller (Bit 1-11): Codierung des Herstellernamens nach speziellem JEDEC-Code (Joint Electron Device Engineering Council-Code).

Artikelnummer: (Bit 12-27): Herstellerspezifische Artikelnummer (16 Bit). Hat ein Hersteller mehr als 216 Bausteine, so werden Nummern wiederverwendet. Gleiche Nummern sollten zur Vermeidung von Verwechslungen möglichst für die „unterschiedlichsten" Bausteine verwendet werden.

Bausteintyp (Bit 28-32): Charakterisiert die Versionsnummer eines Chips, falls eine Baureihe mehrere Versionen besitzt. Insgesamt sind 2⁵=32 Versionen möglich.

Boundary-Scan-Register (BSR):

Die BSR-Länge ist abhängig von Art und Anzahl der Ein- und Ausgänge.

Bypass-Register (BR):

Das BR stellt mit einer Registerlänge von 1 den kürzesten Pfad zwischen TDI und TDO dar. Das Register kommt in Testbus-Strukturen zum Einsatz, wenn Daten durch den Baustein geschoben werden sollen, ohne daß die eigentliche Bausteinlogik beeinflußt wird.

Instruktions-Register (IR):

Das IR muß nach IEEE Std. 1149.1 aus mindestens zwei zu einem Schieberegister verknüpften Bits bestehen. Die Maximallänge ist hingegen beliebig und wird im allgemeinen durch die Anzahl der vom Hersteller realisierten Testinstruktionen bestimmt (Befehle und Kodierungen).

Der Standard fordert, daß mit steigender TCK-Flanke im Kontroller-Zustand „Capture-IR" Bit_0 des IR den Wert „1" und Bit_1 den Wert „0" erhält. Dies ermöglicht eine sichere Fehlererkennung auf dem Prüfpfad.

(spezifisches) Testdaten-Register (TDR):

Neben den vorgeschriebenen TDR Boundary-Scan und Bypass kann optional ein weiteres TDR entworfen werden, daß herstellerspezifische Testfunktionen übernimmt. Auf diese Weise können Testfunktionen kodiert werden, die nur für eine bestimmte Bausteinlogik zutrifft (Signaturanalyse für Verbindungstest, Pseudozufallsgeneratoren (PZG) für Testmustererzeugung, einfach Zähler etc.).

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