Boundary-Scan - Lösung

Unabhängig von der typspezifischen Bausteinlogik wird aktiv durch zusätzliche Testlogik eine prüffreundliche Schaltung entworfen. Die ursprüngliche Schaltung – ohne testbarkeitserhöhende Maßnahmen – bleibt unverändert und wird einfach in die Testumgebung eingebunden. Im Normalbetrieb hat die Testlogik keinerlei Einfluß auf die Schaltung.

Die Abbildung zeigt ein vereinfachtes Modellschaltbild. Durch die Boundary-Scan-Register (BSR) wird ein Prüfpfad durch die Schaltung gelegt, so daß die Eingänge steuerbar und die Ausgänge beobachtbar werden. Mit Hilfe der Testmethode Boundary-Scan ist sowohl der Test von Einzelbausteinen als auch der Test ganzer Leiterplatten-Baugruppen möglich. Durch die Standardisierung der Testmethode (IEEE Std. 1149.1) ist es möglich, die Prüfpfade der jeweiligen Baugruppen miteinander zu verknüpfen. Die Testlogik wird zu einer gemeinsamen Logik organisiert. Boundary-Scan wird zu einer seriellen Busstruktur.

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