Boundary-Scan (BS) - Startseite

1. Synonyme

2. Klassifizierung

3. Kontext

4. Problem

5. Lösung

6. Implementierung

7. Praxiseinsätze

8. Korrelierte Muster

9. Literatur

Synonyme:

1. IEEE Std. 1149.1
2. Test Access Port
3. Testability Bus
4. ...

Seit 1990 ist Boundary-Scan durch IEEE Std. 1149.1 ein fest definierter, etablierter Begriff. Erste Standardisierungsvorschläge wurden 1985 durch die Joint Test Action Group (JTAG) unternommen. Daher sind Synonyme kaum noch vorhanden.

Klassifizierung:

 

Die Kategorie „Testumgebung" ist die Oberkategorie der Kategorie „Testbarkeitserhöhende Maßnahmen". Diese Unterkategorie besteht aus den Entwurfsmustern „Ad-hoc-Ansätze", „LSSD-Verfahren", „Boundary-Scan", ...

Eine vernünftige und vollständige Klassifizierung – evtl. als Baumstruktur dargestellt – kann jedoch erst erfolgen, wenn mehrere Entwurfsmuster identifiziert, definiert und in einem Musterbuch als Hypertext zusammengefaßt worden sind.

Kontext:

Allgemein:
Boundary-Scan ist eine Methode, um eine digitale Schaltung mit einer testfreundlichen Struktur zu versehen.

Bedingungen:
1. Es ist auf dem Chip ausreichender Platz vorhanden.
2. Es muß zusätzliche Logik in Kauf genommen werden.
3. ...

Problem:

Allgemein:
Hochintegrierte Schaltungen können nur dann wirtschaftlich entworfen werden, wenn bereits beim Entwurf die Testerzeugung und Testdurchführung berücksichtigt werden.

Speziell:
In der Regel besteht ein digitales System aus einer Vielzahl hochintegrierter Schaltungen, die zu Baugruppen zusammengefaßt werden. Für die Baugruppen ist ebenfalls ein Test erforderlich, er wird jedoch erschwert, wenn die eingesetzten Schaltungen keine Testhilfen enthalten oder diese nicht aufeinander abgestimmt sind. Da zumeist Chips von unterschiedlichen Herstellern verwendet werden, ist eine Standardisierung der Testhilfen notwendig.

Praxiseinsätze:

1. Xilinx: XC400 Baustein-Familie (FPGA)
2. Texas Instruments: Octal Buffer SN74BCT8244, SN74BCT8245, SN54BCT8245, ...
3. ...

Es gibt die Möglichkeit, Links zu entsprechenden Herstellern zu vergeben; ebenso können die speziellen Bausteine Knoten sein, die eine neue Seite öffnen; diese könnten dann das Innenschaltbild eines Bausteins mit hervorgehobenen BS-Strukturen zeigen.

Korrelierte Muster:

Da Boundary-Scan zur Zeit das einzige Entwurfsmuster ist, gibt es noch keine anderen Muster, die mit BS in Wechselwirkung stehen.

Durch die Verwendung eines Steuerwerks (TAP-Kontroller) können jedoch an späterer Stelle durchaus entsprechende Muster aus der Kategorie „Steuerwerk" zum Einsatz kommen. Auch die Berücksichtigung weiterer testbarkeitserhöhender Maßnahmen ist denkbar.

Literatur:

[Bleeker et al., 1993]

Bleeker, Harry; van den Eijnden, Peter; de Jong, Frans:
Boundary-Scan Test: A Practical Approach.
Dordrecht/Netherlands: Kluwer Academic Publishers, 1993.

[Klose, 1993]

Klose, Bernd: Boundary-scan-Architekturen: Konzept und Realisierung von Leiterplatten-Baugruppentests am Beispiel des EVEREST-Testvehikels.
Universität-GH Siegen: Studienarbeit, FB 12, FG Techn. Informatik, 1993.

[Maunder & Tulloss, 1990]

Maunder, Colin M.; Tulloss, Rodham E.:
The Test Access Port and Boundary Scan Architecture.
Washington [u. a.]: IEEE Computer Society Press, 1990.

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Bemerkung: Zur Orientierung und Organisation innerhalb des Musterbuchs können an dieser Stelle zu späterer Zeit weitere Knoten eingefügt werden, die einen Link zu übergeordneten Seiten herstellen (siehe Klassifizierung).