NH Diplomarbeit Literaturverzeichnis


[Alexander, 77]	Alexander, Christopher: A Pattern Language. New York: Oxford University Press, 1977.

[Alexander, 79]	Alexander, Chistopher: The Timeless Way of Building. New York: Oxford University Press, 1979.

[Bleeker et al., 93]	Bleeker, Harry; van den Eijnden, Peter; de Jong, Frans: Boundary-Scan Test: A Practical Approach. Dordrecht/Netherlands: Kluwer Academic Publishers, 1993.

[Brockhaus, 91]	Brockhaus – Enzyklopädie, 19. Auflage, Band 15: MOE-NOR. Mannheim: F.A. Brockhaus GmbH, 1991.

[Gajski & Kuhn, 83]	Gajski, Daniel D.; Kuhn, Robert H.: Guest Editors’ Introduction: New VLSI Tools. In: Computer, Jg. 16, H. 12, 1983, S. 11-14.

[Gamma et al., 94]	Gamma, Erich; Helm, Richard; Johnson, Ralph; Vlissides, John: Design Patterns – Elements of Reusable Object-Oriented Software. Reading, Massachusetts [u. a.] Addison Wesley, 1994.

[Hombach, 95]	Hombach, Nikolai: Entwurfsmuster: eine Begriffsbestimmung. In: Informatik-Seminar – Entwurfsmuster, Universität-GH Siegen, 1995, S. 3-13.

[Klose, 93]	Klose, Bernd: Boundary-scan-Architekturen: Konzept und Realisierung von Leiterplatten-Baugruppentests am Beispiel des EVEREST-Testvehikels. Universität-GH Siegen: Studienarbeit, FB 12, FG Techn. Informatik, 1993.

[Maunder&Tulloss, 90]	Maunder, Colin M.; Tulloss, Rodham E.: The Test Access Port and Boundary Scan Architecture. Washington [u. a.]: IEEE Computer Society Press, 1990.

[Quibeldey-Cirkel, 94a]	Quibeldey-Cirkel, Klaus: Das Objekt-Paradigma in der Informatik. Stuttgart: B. G. Teubner, 1994.

[Quibeldey-Cirkel, 94b]	Quibeldey-Cirkel, Klaus: Objektorientierung als methodisch-operativer Ansatz zur Erstellung und Integritätssicherung von VLSI-Weltmodellen. Universität-GH Siegen: Dissertation, FB Elektrotechnik und Informatik, 1994.

[Quibeldey-Cirkel, 95]	Quibeldey-Cirkel, Klaus: Ökonomie des Entwerfens: Wiederverwendung. In: Informatik-Seminar – Entwurfsmuster, Universität-GH Siegen, Folien des Einführungsvortrags, 1995.

[Quibeldey-Cirkel, 96]	Quibeldey-Cirkel, Klaus: Symmetrie und Software: Die Suche nach Entwurfsmustern. In: DIAGONAL, Universität-GH Siegen, Heft 1, 1996.

[Weyerer&Gold., 88]	Weyerer, Manfred; Goldemund, Gerald: Prüfbarkeit elektronischer Schaltungen. München, Wien: Carl Hanser Verlag, 1988.

[Wieland, 95]	Wieland, Andreas W.: Hardware-Entwurfsmuster am Beispiel des Cache-Designs. In: Informatik-Seminar – Entwurfsmuster, Universität-GH Siegen, 1995, S. 163-193.

[Wojtkowiak, 88]	Wojtkowiak, Hans: Test und Testbarkeit digitaler Schaltungen. Stuttgart: B. G. Teubner, 1988.

[Wunderlich, 91]	Wunderlich, Hans-Joachim: Hochintegrierte Schaltungen: Prüfgerechter Entwurf und Test. Berlin, Heidelberg: Springer-Verlag, 1991.